
1/2
Skikttjockleksmätare
järnhaltigt substrat
0 - 1250 µm
(ej certifierad kalibrering)
(L x B x H) 25 x 21 x 5.3 cm
750 g
LCD
0.1 µm
3 %
1 st
1250 µm
0 µm
Ultraljud
21 cm
5.3 cm
25 cm
10 mm
Ja
Datablad 756160 Sauter TE 1250-0.1F Skikttjockleksmätare 0 - 1250 µm
Bruks- och säkerhetsanvisning 756160 Sauter TE 1250-0.1F Skikttjockleksmätare 0 - 1250 µm
Information 756160 Sauter TE 1250-0.1F Skikttjockleksmätare 0 - 1250 µm